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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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Hinds 儀器的應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)Exico-150AT是Exicor®雙折射測(cè)量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺(tái)。 該系統(tǒng)具有足夠的多樣性，在生產(chǎn)車(chē)間和研發(fā)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中均可勝任。 該模型廣泛用于研究和工業(yè)中測(cè)量組件; 如光掩膜和光刻膠、DVD空白、塑料薄膜、透鏡毛坯、激光晶體、手機(jī)顯示窗、注塑件等等。 臺(tái)式設(shè)計(jì)和直觀的自動(dòng)掃描軟件使該產(chǎn)品成為高價(jià)值精密光學(xué)元件和商品光學(xué)元件（高達(dá)150mm X 15）
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應(yīng)力儀