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熱門關鍵詞： 測角儀，應力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設備，波片相位延遲，剪切
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美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量 在與眾多的光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統，用于測量大面積光學材料，如用于LCD（高達1500mm x 1500mm）的光學材料。 隨著液晶顯示器材料規格的成熟，專業化的系統已經成為行業所需要的。Hinds現在提供從GEN5到GEN
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