在硅太陽能電池板的生產過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當這臺儀器被用作質量控制工具時，在后續加工成本發生之前，可以識別出低質量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質量的工具，使其能夠生產出較薄的硅片，降低了機械產量損失。

Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統。該系統是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調制器（ PEM）基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統為該行業提供了分析和開發下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。

圓二色性測量系統使用垂直光路直接從標準孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉移到試管中進行篩選，也不需要在分析過程中清洗試管

各向異性測量系統2-MGEM橢圓計是一個重大的突破，光學各向異性測量技術更快、更準確、收集更多的數據。

Strokes 偏振計在光學元件表征、光學系統光束輸出特性、天文學、光纖制造、光源和激光質量控制等方面有著廣泛的應用。

雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學術界和工業界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業材料。

雙折射（應力）測量系統 EXICOR-SYSTERMS，設計減去了光學系統中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調制。