熱門(mén)關(guān)鍵詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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簡(jiǎn)要描述:M6-UV-QED衰減片:用于M6超快熱電探測(cè)器專(zhuān)用衰減器。允許對(duì)紫外的測(cè)量。QED-12用于QE12系列寬帶衰減器。300-2100nm。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
QED-12衰減片
用于QE12系列寬帶衰減器。300-2100nm。
QED-25衰減片
用于QE25系列寬帶衰減器。300-2100nm。
QED-50
用于QE50系列寬帶衰減器。300-2100nm。
QED-65
用于QE65系列寬帶衰減器。300-2100nm。
QED-95
用于QE95系列寬帶衰減器。300-2100nm。
OD0.3
用于PH系列ODO.3衰減器。
OD1
用于PH系列OD1衰減器。
OD2
用于PH系列OD2衰減器。
M6-UV-QED
用于M6超快熱電探測(cè)器專(zhuān)用衰減器。允許對(duì)紫外的測(cè)量。
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