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簡要描述:QptLux SD是一款創新性的光學表面瑕疵檢測,具備高重復性和準確性,系統根據設定的檢驗標準自動生成詳細的通過/失敗報告,與光學行業現在很多的具有很強主觀性的人工檢驗以及其他手動檢驗設備相比,提供光學表面質量控制性能,可以廣泛用于光學元件生產、出貨控制、進料檢驗等過程。
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光學表面瑕疵檢測特點:
高重復性的表面缺陷檢測和表征
對如下表面質量標準進行評估:
- MIL-PRF-13830B
- ISO 10110-7 可見性標準 (含 ISO 14997)
- ISO 10110-7 尺寸標準 (含 ISO 14997)
全自動手動檢測模式
一個裝載周期內多個零件的批量檢測
零件預掃描和排除光圈設置
帶有缺陷掃描的合格、失敗報告
保存并加載物料
光學表面瑕疵檢測檢測優勢 :
按照行業標準進行檢測
提供可追溯的檢測結果
排除檢測主觀性
縮減檢測時間
避免過度檢測
商業優勢
建立對產品表面質量的信心
增加產量
實現并支持正在進行的過程改進
將檢測能量擴展到多有表面質量標準
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