熱門(mén)關(guān)鍵詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTERgentec-eo激光功率計(jì)和能量計(jì)在這個(gè)領(lǐng)域擁有超過(guò)45年的歷史。 Gentec-EO功率計(jì)的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面。憑借45年的記錄以及從工廠(chǎng)到醫(yī)院和實(shí)驗(yàn)室提供激光功率和能量測(cè)量...
在硅太陽(yáng)能電池板的生產(chǎn)過(guò)程中,硅晶體中的應(yīng)力在制作過(guò)程中往往沒(méi)有被檢測(cè)到,我們描述了一種測(cè)量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測(cè),它可以是方形的,也可以是生長(zhǎng)的,然后被鋸成硅片,當(dāng)這臺(tái)儀器被用作質(zhì)量控制工具時(shí),在后續(xù)...
加拿大Gentec-EO是激光功率計(jì)能量計(jì)供應(yīng)商。UP -50W系列:50 mm Ø, 5 mW – 85 W, 100 kW/cm2。$n主要特點(diǎn):$n1.模塊化概念$n增加您探頭的功率能...
Gentec Electro Optics提供全系列產(chǎn)品以滿(mǎn)足您的脈沖能量測(cè)量需求。Gentec-EO激光能量計(jì)從精益和便攜式QE12和QE25系列,大光圈QE50、QE65和QE95系列到我們的大型...
加拿大Gentec-EO 推出激光功率計(jì)能量計(jì)表頭,為擁有完整的激光功率測(cè)量系統(tǒng),您將需要一款采集與讀出設(shè)備搭配您的功率探測(cè)器。我們提供不同功能的設(shè)備以滿(mǎn)足需求。無(wú)論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD...
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評(píng)估的主要應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器( PE...
ENTERPRISE ADVANTAGE
選擇我們就是選擇高品質(zhì),我們是您的信賴(lài)之選!非接觸式、非破壞性,實(shí)時(shí)在線(xiàn)測(cè)量或離線(xiàn)測(cè)量
可單次測(cè)量多層膜,可測(cè)20層
探針靈活配置,實(shí)現(xiàn)多個(gè)不同目標(biāo)測(cè)量
測(cè)試速度快,適用范圍廣
關(guān)于我們
ABOUT US北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年,專(zhuān)業(yè)代理歐美(德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶(hù)提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括:光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測(cè)量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測(cè)厚儀/測(cè)角儀/可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測(cè)產(chǎn)品:激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門(mén)...
技術(shù)支持
TCEHNICAL SUPPORT光束質(zhì)量分析儀基本的工作原理是通過(guò)對(duì)光束橫截面上的光強(qiáng)分布進(jìn)行測(cè)量和分析。當(dāng)光束照射到分析儀的探測(cè)器表面時(shí),探測(cè)器上的每個(gè)像素點(diǎn)會(huì)接收到不同強(qiáng)度的光信號(hào),并將這...
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Gentec-EO激光功率計(jì)的核心在于熱效應(yīng)探測(cè)器的使用。激光探頭表面涂有特殊的熱電材料作為吸收體,當(dāng)激光照射時(shí),大部分光能被該材料吸收并轉(zhuǎn)化為熱量,僅有少量反射。這種高吸收率的設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的準(zhǔn)確性基礎(chǔ)。吸收體兩端因受熱不均形成溫度梯度,進(jìn)而在兩端之間產(chǎn)生電壓差。這一過(guò)程利用了塞貝克效應(yīng)(Seebeckeffect),即不同溫度下的導(dǎo)體或半導(dǎo)體會(huì)產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象。產(chǎn)生的微弱電壓信號(hào)隨后由配套的電路進(jìn)行放大和處理。內(nèi)置的高精度測(cè)量電路負(fù)責(zé)接收這些模擬信號(hào),并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式...
8-25
激光能量計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)激光能量的高精度測(cè)量,誤差范圍小。以微焦耳甚至更小量級(jí)為單位,準(zhǔn)確量化激光輸出,這對(duì)于需要精密控制激光能量的科研和工業(yè)應(yīng)用至關(guān)重要。例如在半導(dǎo)體芯片制造的光刻工藝中,細(xì)微的激光能量差異都可能影響芯片的圖案精度,可保障每次曝光的能量準(zhǔn)確一致,提升產(chǎn)品良率。其測(cè)量量程很寬,既可以測(cè)量微弱的毫焦、微焦級(jí)別的激光能量,滿(mǎn)足光學(xué)通信、生物熒光檢測(cè)等低能量需求場(chǎng)景;又能應(yīng)對(duì)高能量的激光,如工業(yè)激光切割、焊接中的千瓦級(jí)激光脈沖能量測(cè)量,一臺(tái)設(shè)備可覆蓋多種不同功率水平的激...
8-21
UV轉(zhuǎn)換器(紫外線(xiàn)轉(zhuǎn)換器)是一種利用紫外光(UV)對(duì)物質(zhì)進(jìn)行照射、反應(yīng)或轉(zhuǎn)化的設(shè)備,廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)、化學(xué)分析、醫(yī)療消毒等領(lǐng)域。以下是一些關(guān)于UV轉(zhuǎn)換器的基礎(chǔ)操作知識(shí):1.設(shè)備啟動(dòng)前的準(zhǔn)備檢查電源:確保設(shè)備接入正常電源,電壓和頻率符合要求。檢查紫外燈管:確認(rèn)UV燈管是否完好,無(wú)破損或老化現(xiàn)象。檢查冷卻系統(tǒng):部分UV轉(zhuǎn)換器可能有內(nèi)置冷卻系統(tǒng),確保水冷或風(fēng)冷系統(tǒng)正常工作。校準(zhǔn)設(shè)備:如果設(shè)備支持校準(zhǔn)功能,應(yīng)確保設(shè)備已完成初步校準(zhǔn),以確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。2.操作界面設(shè)置紫外光強(qiáng)度:許多U...
新聞中心
NEWS CENTER摘要激光技術(shù)在科研、工業(yè)制造、醫(yī)療等眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。為了確保激光設(shè)備的性能和安全性,準(zhǔn)確地測(cè)量激光輸出功率顯得尤為重要。本文將詳細(xì)介紹激光功率計(jì)的工作原...
8-25
在我們?nèi)粘I钪校坨R、相機(jī)鏡頭、顯微鏡、望遠(yuǎn)鏡等都離不開(kāi)光學(xué)玻璃。這些玻璃不僅要透明,還要具備高的光學(xué)均勻性。然而,即使外觀無(wú)瑕的玻璃,內(nèi)部也可能隱藏著“壓力”——這就是所謂的“殘余應(yīng)力”。這種應(yīng)力雖看不見(jiàn),卻會(huì)嚴(yán)重影響光學(xué)性能,因此必須進(jìn)行精確測(cè)量和控制。本文將帶您了解光學(xué)玻璃應(yīng)力測(cè)量的基本知識(shí)。什么是光學(xué)玻璃中的應(yīng)力?光學(xué)玻璃在制造過(guò)程中(如熔煉、成型、退火等),由于溫度變化不均勻或外部約束,內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生不均勻的分子排列,導(dǎo)致部分區(qū)域被拉伸或壓縮,形成“殘余應(yīng)力”。這種應(yīng)...
6-18
當(dāng)光進(jìn)入Lumetrics測(cè)厚儀的干涉儀后,輸入光被等比例分束成為兩束光。這兩束光頻率相同、振動(dòng)方向相同,但具有穩(wěn)定的相位差,并沿不同光路傳播。在輸出端重新匯合疊加時(shí),會(huì)出現(xiàn)光的干涉現(xiàn)象。光強(qiáng)在疊加區(qū)域內(nèi)不是均勻分布,而是在數(shù)值之間逐點(diǎn)變化,可能超過(guò)兩光束之和,小值可能是零。通過(guò)分析這種干涉條紋的變化,可以準(zhǔn)確地測(cè)量出被測(cè)物體的厚度。Lumetrics測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn):-非接觸式測(cè)量:它不需要與被測(cè)物體直接接觸,避免了傳統(tǒng)接觸式測(cè)量可能對(duì)物體表面造成的劃傷、磨損等損害,尤其適用于測(cè)...
5-8
激光測(cè)厚儀是一種基于激光技術(shù)的高精度非接觸式測(cè)量設(shè)備,通過(guò)發(fā)射激光束并捕捉反射信號(hào),實(shí)現(xiàn)對(duì)材料厚度的實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)。其核心優(yōu)勢(shì)在于突破傳統(tǒng)接觸式測(cè)量的局限,以微米級(jí)精度滿(mǎn)足現(xiàn)代工業(yè)對(duì)品質(zhì)控制的嚴(yán)苛需求,成為航空航天、汽車(chē)制造、新能源等領(lǐng)域的核心檢測(cè)工具。一、技術(shù)原理:雙傳感器對(duì)射與三角測(cè)距的精密融合激光測(cè)厚儀的核心技術(shù)可分為兩大體系:雙激光位移傳感器對(duì)射法與三角測(cè)距原理。雙傳感器對(duì)射法:設(shè)備上下各配置一臺(tái)激光位移傳感器,分別測(cè)量被測(cè)物體上表面與下表面的空間坐標(biāo)。通過(guò)計(jì)算兩傳感...
傳真:010-68214292
郵箱:gloria.yang@opcrown.com
地址:北京市門(mén)頭溝區(qū)蓮石湖西路98號(hào)院7號(hào)樓1006室
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