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熱門關(guān)鍵詞： 測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTER
gentec-eo激光功率計(jì)和能量計(jì)在這個領(lǐng)域擁有超過45年的歷史。 Gentec-EO功率計(jì)的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面。憑借45年的記錄以及從工廠到醫(yī)院和實(shí)驗(yàn)室提供激光功率和能量測量...
在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當(dāng)這臺儀器被用作質(zhì)量控制工具時(shí)，在后續(xù)...
加拿大Gentec-EO是激光功率計(jì)能量計(jì)供應(yīng)商。UP -50W系列：50 mm Ø, 5 mW – 85 W, 100 kW/cm2 。主要特點(diǎn)：1.模塊化概念增加您探頭的功率能力 :4 ...
Gentec Electro Optics提供全系列產(chǎn)品以滿足您的脈沖能量測量需求。Gentec-EO激光能量計(jì)從精益和便攜式QE12和QE25系列，大光圈QE50、QE65和QE95系列到我們的大型...
加拿大Gentec-EO 推出激光功率計(jì)能量計(jì)表頭，為擁有完整的激光功率測量系統(tǒng)，您將需要一款采集與讀出設(shè)備搭配您的功率探測器。我們提供不同功能的設(shè)備以滿足需求。無論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD...
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器（ PE...
ENTERPRISE ADVANTAGE
選擇我們就是選擇高品質(zhì)，我們是您的信賴之選！
非接觸式、非破壞性，實(shí)時(shí)在線測量或離線測量
可單次測量多層膜，可測20層
探針靈活配置，實(shí)現(xiàn)多個不同目標(biāo)測量
測試速度快，適用范圍廣
關(guān)于我們
ABOUT US
北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年，專業(yè)代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學(xué)檢測設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括：光學(xué)檢測產(chǎn)品：應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調(diào)相位延遲波片等；激光檢測產(chǎn)品：激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等；集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門...
技術(shù)支持
TCEHNICAL SUPPORT
一、激光測厚儀簡介它是一種利用激光技術(shù)進(jìn)行非接觸式厚度測量的高精度儀器，廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)、科研等領(lǐng)域。其核心原理是通過激光束照射被測物體，利用反射或透射的光信...
1-16
激光功率計(jì)一般由探頭和顯示設(shè)備組成。探頭：按照不同的原理和材料分為熱電堆型（thermal）、光電二極管型（PD:Photodiode）以及包含兩種傳感器的綜合探頭（RP）。探頭的選擇取決于測量的類型及待測激光的參數(shù)，如激光是連續(xù)還是脈沖、激光功率或能量范圍、光束口徑以及波長范圍等。顯示設(shè)備：用來顯示測量結(jié)果，有不同功能的表頭或電腦連接器。可以實(shí)時(shí)顯示數(shù)據(jù)，或?qū)?shù)據(jù)上傳至軟件中作進(jìn)一步分析或在線記錄。應(yīng)用領(lǐng)域激光功率計(jì)在激光科學(xué)、醫(yī)療、工業(yè)、軍事等領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用。例如，在...
12-17
激光功率計(jì)是一種專門用于測量激光束功率的儀器，其應(yīng)用廣泛，涵蓋通信、醫(yī)療、工業(yè)制造與科研等多個領(lǐng)域。以下是關(guān)于激光功率計(jì)用途的詳細(xì)介紹：一、通信領(lǐng)域在光纖通信系統(tǒng)中，激光功率計(jì)用于監(jiān)測激光器的輸出功率，確保光信號的穩(wěn)定傳輸。通過精確測量激光功率，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決光信號衰減、損耗等問題，保障通信系統(tǒng)的正常運(yùn)行。二、醫(yī)療領(lǐng)域在醫(yī)療領(lǐng)域，激光功率計(jì)主要用于激光美容、激光醫(yī)療等設(shè)備的功率監(jiān)測。確保激光設(shè)備的輸出功率符合安全標(biāo)準(zhǔn)，避免對患者造成不必要的傷害。同時(shí)，激光功率計(jì)還可用于激...
11-26
殘余應(yīng)力測量是指材料在無外力作用下，內(nèi)部保持自平衡的應(yīng)力狀態(tài)。它在機(jī)械加工、熱處理、焊接等過程中產(chǎn)生，并影響材料的疲勞壽命、應(yīng)力腐蝕和尺寸穩(wěn)定性。因此，準(zhǔn)確測量殘余應(yīng)力對于保障工程結(jié)構(gòu)和機(jī)械零部件的可靠性至關(guān)重要。無損檢測法通過物理手段測量材料內(nèi)部的物理量變化，間接推算殘余應(yīng)力，主要包括X射線衍射法、中子衍射法、磁性法和超聲法。1.X射線衍射法X射線衍射法是目前準(zhǔn)確可靠的殘余應(yīng)力測量方法之一。其基本原理是根據(jù)X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象，通過測量晶面間距的變化來推算殘余應(yīng)力。具體...
新聞中心
NEWS CENTER
光束質(zhì)量分析儀的基本原理是通過測量光束在空間上的偏離程度來評估光束的質(zhì)量。這種偏離程度可以通過測量光束的多個參數(shù)來實(shí)現(xiàn)，包括但不限于發(fā)散角、束腰位置、束腰直徑以...
11-22
激光功率計(jì)是用于測量光源輸出功率的重要儀器，利用熱電效應(yīng)將激光能量轉(zhuǎn)化為熱量，進(jìn)而產(chǎn)生電流并轉(zhuǎn)換為電壓信號。熱電堆型功率計(jì)適用于高功率激光的測量；通過光電效應(yīng)將激光能量直接轉(zhuǎn)化為電能，適用于低功率激光的測量。探頭是激光功率計(jì)的核心部分，負(fù)責(zé)接收激光并將其轉(zhuǎn)換為電信號。根據(jù)工作原理和材料的不同，探頭可分為熱電堆型、光電二極管型及綜合探頭等；顯示設(shè)備則用于顯示測量結(jié)果，便于用戶讀取和分析數(shù)據(jù)，主要用于測量光源(如激光器)的輸出功率，激光功率通常以瓦(W)、千瓦(kW)或毫瓦(mW...
10-23
一、什么是應(yīng)力雙折射應(yīng)力雙折射(Stress-opticaleffect)，也稱為光彈性效應(yīng)，是指某些透明材料在受到機(jī)械應(yīng)力時(shí)，其折射率會發(fā)生變化的現(xiàn)象。這種變化會導(dǎo)致通過材料傳輸?shù)钠窆獍l(fā)生相位差，從而產(chǎn)生干涉條紋，這種現(xiàn)象被稱為應(yīng)力雙折射。二、應(yīng)力雙折射的原理當(dāng)透明材料受到外力作用時(shí)，材料內(nèi)部的分子排列和電子云分布會發(fā)生變化，導(dǎo)致材料的光學(xué)性質(zhì)也隨之改變。具體來說，受力后的材料會表現(xiàn)出各向異性，即在不同方向上的折射率不同。這種各向異性會使通過材料的偏振光分解為兩束振動方向...
8-27
在現(xiàn)代光學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展中，光束質(zhì)量分析儀作為一種重要的工具，被廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)生產(chǎn)以及醫(yī)療等多個領(lǐng)域。隨著激光技術(shù)的不斷進(jìn)步，對光束質(zhì)量的要求也越來越高，這直接推動了光束質(zhì)量分析儀技術(shù)的發(fā)展與革新。本文將探討光束質(zhì)量分析儀的基本原理、關(guān)鍵技術(shù)及其在不同領(lǐng)域的應(yīng)用。光束質(zhì)量的重要性光束質(zhì)量的好壞直接影響到激光系統(tǒng)的性能表現(xiàn)。例如，在材料加工領(lǐng)域，高質(zhì)量的激光束能夠?qū)崿F(xiàn)更精細(xì)的切割和焊接效果；在通信行業(yè)中，良好的光束質(zhì)量可以提高信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性與效率。因此，準(zhǔn)確地評估和控制...
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